Method and apparatus thereof for verifying bad patterns in sensor-measured time series data

시계열 형태의 센싱 데이터 배드 패턴 검증 방법 및 그 장치

Abstract

An apparatus and method for verifying bad pattern in time series sensing data measured by a sensor are provided. According to the present invention, the method comprises the steps of: receiving information on the bad pattern applied to time series sensing data measured by a suspicious sensor; accessing the time series sensing data of each product, which is generated by the suspicious sensor during a verification period; calculating similarity between the bad pattern based on the bad pattern information and the time series sensing data for each product; and calculating an error rate of the bad pattern based on the calculated similarity.
센서에서 측정된 시계열 형태의 센싱 데이터의 배드 패턴을 검증할 수 있는 장치 및 방법이 제공된다. 본 발명에 따른 시계열 형태의 센싱 데이터의 배드 패턴 검증 방법은 혐의 센서의 시계열 형태의 센싱 데이터에 적용되는 배드 패턴 정보를 제공받는 단계와, 검증 대상 기간 동안 상기 혐의 센서에 의하여 생성된 각 생산품의 시계열 형태의 센싱 데이터에 억세스하는 단계와, 상기 배드 패턴 정보에 따른 배드 패턴과 상기 시계열 형태의 센싱 데이터 사이의 유사도를 각 생산품 별로 연산하는 단계와, 상기 유사도에 기반하여 상기 배드 패턴의 오류율을 연산하는 단계를 포함한다.

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